在现代电子设备中，元器件的可靠性是系统稳定运行的基石。然而，在实际应用中，我们常常会遇到各种各样的器件失效问题。其中，过电应力（Electrical Over Stress, EOS）导致的失效占比超过80%以上，而器件本身质量原因导致的失效案例形貌上通常与“

器件 eos 应力 过电 过电应力 2025-08-31 23:39  8